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alpha-SE®  
 

薄膜の膜厚と屈折率のルーチン測定には
alpha-SEが最適です。
「使いやすさ」を基準に設計されているため、
簡単にサンプルを置いて、膜にあったモデルを選んで、測定ボタンを押すだけです。

数秒のうちに結果が得られます!

複数入射角 (65°70°75°90°)での測定が可能になりました。

装置紹介動画 (1.4MB)

 

 

 

 



 

なぜ alpha-SE

使いやすさ
簡単なボタン操作だけで、高性能なソフトウェアがお客様の仕事を短時間で片付けます。

パワフル
実績のある分光エリプソメーターの技術が、他の技術よりもはるかに高い精度の膜厚と光学定数を提供します。

フレキシブル
誘電体・半導体・有機物などさまざまな物質を測定できます。

低価格
分光エリプソメトリーの技術を、リーズナブルな価格で!

高速
数百の波長をわずか数秒で同時に収集できることに
より、迅速に結果が得られます。

 

 
   

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