ジェー・エー・ウーラム・ジャパン株式会社のウェブサイトにご訪問いただき、ありがとうございます。
ジェー・エー・.ウーラム社は、非接触・非破壊で薄膜やバルクを測定・解析する分光エリプソメーターのメーカーです。分光エリプソメトリー（SE）は、薄膜の膜厚や光学定数を求める一般的な測定手法になっています。分光エリプソメトリー、誘電体、半導体、金属、有機膜など様々な物質解析に用いられます。私たちは真空紫外（VUV）から赤外（IR）までのあらゆる測定波長の要求にあうエリプソメーターを提供します。弊社のエリプソメーターでは、自動サンプルステージ、温度可変（昇温や冷却）、集光光学系、溶液セルなどの様々なオプションを用意しております。

J.A. Woollam Home | 製品紹介 | 新着案内 | セールス&サポート
測定サービス | 技術資料 | サイトマップ | 会社案内 | お問い合せ