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J. A. Woollam社は非接触・非破壊で薄膜やバルクを測定・解析する、分光エリプソメーターの専門メーカーです

 

 


 分光エリプソメトリー は現在、薄膜の膜厚や光学定数を求める一般的な手法となっています。
 誘電体・半導体・金属・有機膜など、さまざまな物質解析に用いられています。
 私たちは真空紫外 (VUV)から赤外 (IR) までのあらゆる測定波長にあったエリプソメーターを
 ご提供いたします。
 また、自動サンプルステージ・温度可変 (昇温や冷却)・集光光学系・溶液セルなど、さまざま
 なオプションをご用意しております。


新着情報

2016/11/17(木)分光エリプソメトリーセミナーを開催します
詳しくはお問い合わせください

2016/10/14
 展示会情報を更新しました。
 
今後の出展予定 
 2016.12.14(水) - 16(金)
 セミコン ジャパン
詳細は こちら をご覧ください。


2010/12/22 出版論文を追加しました。
詳細は こちら をご覧ください。

2010/10/25 alpha-SE(簡易高速分光エリプソメーター)で複数入射角測定が可能になりました。
詳細は こちら をご覧ください。

2010/5/11 ホームページをリニューアルしました。

2009/2/1 
新製品、太陽電池向分光エリプソメーター(T-Solar) の販売を開始しました。

詳細は こちら をご覧ください。


製品紹介

私たちはさまざまなアプリケーション測定に対応する
ため、6種類の分光エリプソメーターを揃えております。
お客様のニーズにあった製品をご提供いたします。
 
エリプソメトリーとは?
エリプソメトリー講座では、エリプソメトリー概論やその
応用技術など、基礎から応用まで、興味深い内容を
わかり易く解説します。
 
 


 

   

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ジェー・エー・ウーラム・ジャパン株式会社
東京都杉並区荻窪5-22-9藤ビル2F
TEL (03) 3220-5871
FAX (03) 3220-5876
E-mail: info@jawjapan.com

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